試作した粒状結晶構造の透過型電子顕微鏡(TEM)観察像。左の写真は高抵抗(リセット)状態の領域。「C」とあるのは孤立した粒状結晶。セット動作に入ると、粒状結晶「C」がお互いに接触しようと成長を始める。そして抵抗の低い経路ができる。右の写真は低抵抗(セット)状態の領域。「A」とあるのはアモルファス部分。リセット動作に入ると2つの「A」部分の間に矢印のように電流が流れ、粒状結晶間の導電領域をアモルファス化する

試作した粒状結晶構造の透過型電子顕微鏡(TEM)観察像。左の写真は高抵抗(リセット)状態の領域。「C」とあるのは孤立した粒状結晶。セット動作に入ると、粒状結晶「C」がお互いに接触しようと成長を始める。そして抵抗の低い経路ができる。右の写真は低抵抗(セット)状態の領域。「A」とあるのはアモルファス部分。リセット動作に入ると2つの「A」部分の間に矢印のように電流が流れ、粒状結晶間の導電領域をアモルファス化する