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IRPS 2009 レポートリンク集
【5/15】
【IRPS 2009レポート】
先端プロセス編
〜高誘電率膜/金属ゲートのリーク電流を抑える
【5/11】
【IRPS 2009レポート】
航空電子機器編
〜航空電子機器を脅かす中性子線ソフトエラー
【5/7】
【IRPS 2009レポート】
ファウンドリ編
〜ファウンドリとファブレスの微妙な関係
【5/1】
【IRPS 2009レポート】
ソフトエラー編
〜ソフトエラー対策が常識となる最先端チップ開発
【4/30】
【IRPS 2009レポート】
不揮発性メモリ編
〜次世代不揮発性メモリの信頼性を考える
【4/28】
【IRPS 2009前日レポート】
45nm世代の半導体が不良との闘いを振り返る
